海(hai)康(kang)微影HIKMICRO紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)、PCB加(jia)速(su)度(du)傳(chuan)感(gan)器、PCB Piezotronics傳(chuan)感(gan)器、數(shu)據采(cai)集(ji)儀(yi)、應(ying)力(li)應變(bian)儀(yi)、紫(zi)外(wai)成(cheng)像(xiang)儀(yi)、精密(mi)木工機械(xie)、木(mu)工實(shi)驗室(shi)設(she)備、SawStop木工臺(tai)鋸、AVIO紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)、法(fa)國(guo)CA測試儀(yi)器、IMPAC紅(hong)外(wai)測溫(wen)儀(yi)、紅(hong)外(wai)檢(jian)測服(fu)務(wu)、鋼絲繩(sheng)無(wu)損(sun)檢(jian)測、鋼絲繩(sheng)探(tan)傷服(fu)務(wu)、MIKRON黑體(ti)校準源
- PCB Piezotronics傳(chuan)感(gan)器
- 數(shu)據采(cai)集(ji)儀(yi)器
- 應(ying)力(li)應變(bian)測量
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紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
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海(hai)康(kang)微影HIKMICRO紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
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NEC AVIO紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
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MIKRON紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
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高像(xiang)素紅(hong)外(wai)成(cheng)像(xiang)儀(yi)
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IMPAC紅(hong)外(wai)測溫(wen)儀(yi)
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FLIR紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
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雙(shuang)色紅(hong)外(wai)測溫(wen)儀(yi)
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單(dan)色(se)紅(hong)外(wai)測溫(wen)儀(yi)
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海(hai)康(kang)微影HIKMICRO紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
- 手(shou)持(chi)式(shi)XRF光(guang)譜(pu)儀(yi)
- 法(fa)國(guo)CA測量儀(yi)器
- 精密(mi)木工機械(xie)
- 高校創(chuang)意(yi)木(mu)工坊(fang)
- 鋼絲繩(sheng)檢(jian)測儀(yi)
- 全(quan)日(ri)盲紫外(wai)成(cheng)像(xiang)儀(yi)
- 黑體(ti)校準源
- 專(zhuan)業檢(jian)測服(fu)務(wu)
- X射(she)線殘(can)余應力(li)測定儀(yi)
- 分(fen)光(guang)光(guang)度(du)計(ji)
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Opterro光(guang)纖(xian)測量系(xi)統
俄羅(luo)斯INTRON MH24-64鋼絲繩(sheng)檢(jian)測儀(yi)
俄羅(luo)斯INTRON MH24-64鋼絲繩(sheng)檢(jian)測儀(yi)在(zai)磁頭(tou)內(nei)部的鋼絲繩(sheng)部(bu)分通過(guo)縱(zong)向(xiang)施加(jia)很(hen)強的(de)稀(xi)有(you)地磁鐵(tie)來(lai)飽和磁化(hua),對(dui)鋼絲繩(sheng)缺(que)陷(xian)處的漏磁和磁通量(liang)的(de)信(xin)號變化(hua)來(lai)檢(jian)測鋼絲繩(sheng)的(de)損傷如:斷(duan)絲(si)、磨(mo)損(sun)、腐(fu)蝕和變形等缺(que)陷(xian),確保(bao)及時發(fa)現問題和更換。俄羅(luo)斯INTRON MH24-64鋼絲繩(sheng)檢(jian)測儀(yi)能(neng)定(ding)量地檢(jian)測出線纜的(de)金屬截(jie)面積損失(shi)(LMA)和探測局部(bu)缺(que)陷(xian)(LF),如斷(duan)線等非連續性(xing)缺(que)陷(xian)或鋼絲繩(sheng)結構(gou)中(zhong)的(de)局(ju)部變化(hua)。當鋼絲繩(sheng)金屬截(jie)面有(you)改(gai)變(bian)時,磁場(chang)就被(bei)破壞(huai),磁漏就在(zai)不規(gui)則(ze)處局部(bu)增強,信(xin)號並被(bei)傳(chuan)感(gan)器記錄(lu)下(xia)來傳(chuan)輸(shu)到基本(ben)單(dan)元(yuan)存儲和處理。
MH24-64 磁頭(tou)描(miao)述(shu): 漏磁檢(jian)測法、磁通檢(jian)測法
探(tan)頭(tou)采(cai)用(yong)強磁磁通、漏磁檢(jian)測,探頭(tou)為強磁體(ti)
鋼絲繩(sheng)檢(jian)測直徑為24至64毫(hao)米(mi)
磁頭(tou)尺寸(cun)330×205×190毫(hao)米(mi)
磁頭(tou)體(ti)重15公(gong)斤(jin)
LMA的(de)測量精度(du)±1%
檢(jian)測鋼絲繩(sheng)速(su)度(du)0至2米(mi)/秒
工作(zuo)環(huan)境溫(wen)度(du) -10°…+ 50°C
傳(chuan)感(gan)器3組(zu)
塑(su)料襯(chen)套(tao)8對(dui)
環(huan)境防護(hu)等級IP65
固(gu)定吊(diao)索(suo)
Intros鋼絲繩(sheng)檢(jian)測儀(yi) 主(zhu)控(kong)單(dan)元(yuan) MH24-64磁頭(tou)
鋼絲繩(sheng)探(tan)傷儀(yi)的(de)應(ying)用(yong)鄰(lin)域:
海(hai)洋(yang)石油鉆(zuan)井(jing)平(ping)臺(tai),起(qi)重機,客(ke)運和貨(huo)運索(suo)道,電梯鋼絲繩(sheng),橋梁鋼絲繩(sheng)


鋼絲繩(sheng)破(po)損原(yuan)因(yin) :
外(wai)部(bu)和內部(bu)磨損(sun) ,外(wai)部(bu)和內部(bu)腐蝕(shi) ,動(dong)、靜機(ji)械(xie)應(ying)力(li),環(huan)境溫(wen)度(du)過(guo)熱(re)

鋼絲繩(sheng)破(po)損型式(shi)
磨損和腐蝕(shi)引(yin)發:金屬橫(heng)截(jie)面損失(shi)LMA (%):磨損(sun)、腐(fu)蝕(shi)、潤滑不佳
機(ji)械(xie)疲(pi)勞(lao)或(huo)壓力(li)引(yin)發:局(ju)部損(sun)傷LF(mv):疲(pi)勞(lao)、短(duan)絲、機械(xie)損(sun)傷、塑(su)形損(sun)壞
檢(jian)測原(yuan)理和方(fang)法(fa)
俄羅(luo)斯INTROS鋼絲繩(sheng)檢(jian)測都是(shi)采(cai)用(yong)電(dian)磁檢(jian)測的方(fang)法(fa),通過(guo)電(dian)磁傳(chuan)感(gan)器將鋼絲繩(sheng)充(chong)磁,對(dui)鋼絲繩(sheng)缺(que)陷(xian)處的漏磁和磁通量(liang)的(de)信(xin)號變化(hua)來(lai)檢(jian)測鋼絲繩(sheng)的(de)損傷如:斷(duan)絲(si)、磨(mo)損(sun)、腐(fu)蝕和變形等缺(que)陷(xian),確保(bao)及時發(fa)現問題和更換。
電(dian)磁檢(jian)測能定(ding)量(liang)地檢(jian)測出線纜的(de)金屬截(jie)面積損失(shi)(LMA)和探測局部(bu)缺(que)陷(xian)(LF),如斷(duan)線等非連續性(xing)缺(que)陷(xian)或鋼絲繩(sheng)結構(gou)中(zhong)的(de)局(ju)部變化(hua)。
LMA 是對(dui)鐵(tie)基材(cai)料損失(shi)量的(de)相(xiang)對(dui)測試值,從某(mou)個位(wei)置開(kai)始(shi)壹直沿著(zhe)鋼絲繩(sheng)進行(xing)測量,在(zai)鋼絲繩(sheng)上(shang)選(xuan)定壹參(can)考(kao)點(dian)表(biao)示(shi)正常(chang)的(de)金屬截(jie)面積,通過(guo)比(bi)較當前(qian)點(dian)與(yu)參(can)考(kao)點(dian)的(de)讀(du)數(shu)來進行(xing)測量。
LF 表(biao)示(shi)鋼絲繩(sheng)的(de)非連續性(xing),比(bi)如斷(duan)線或壞(huai)線、銹坑(keng)、疲(pi)勞(lao)紋(wen)槽或(huo)其(qi)它(ta)破壞(huai)鋼絲繩(sheng)整(zheng)體性的機(ji)械(xie)非(fei)連(lian)續性(xing),被(bei)測鋼絲繩(sheng)的(de)表面和內部(bu)的都(dou)可(ke)以測量。
INTROS 工作(zuo)原(yuan)理 (US 號(hao): 6,492,808) 漏磁檢(jian)測法、磁通檢(jian)測法。
INTROS磁頭(tou)采(cai)用(yong)工作(zuo)原(yuan)理:磁頭(tou)使被測鋼絲繩(sheng)磁飽(bao)和,當鋼絲繩(sheng)通過(guo)磁頭(tou)時,儀(yi)器對(dui)鋼絲繩(sheng)進行(xing)檢(jian)測,鋼絲繩(sheng)截(jie)面積和非連(lian)續性(xing)(如壞(huai)線或斷(duan)絲(si)、銹坑(keng)等)中的任(ren)何變(bian)化(hua),都會(hui)影響磁流(liu)量(liang)的變(bian)化(hua)。這(zhe)些變(bian)化是(shi)通過(guo)磁敏感(gan)傳(chuan)感(gan)器來(lai)檢(jian)測的,傳(chuan)感(gan)器位(wei)於磁頭(tou)的(de)磁極(ji)中(zhong)間,緊鄰(lin)鋼絲繩(sheng)。傳(chuan)感(gan)器獲得(de)的(de)信(xin)號輸出到用(yong)於(yu)操作(zuo)和顯(xian)示主(zhu)機中(zhong)。

實(shi)戰(zhan)案例(li):鋼絲繩(sheng)檢(jian)測重復率高的驚(jing)人(ren)!
首(shou)先:設(she)備準備階段

**部:人(ren)為缺(que)陷(xian)造成鋼絲繩(sheng)4出斷(duan)絲(si)缺(que)陷(xian)

第三(san)部:選(xuan)出3位(wei)工程師(shi)對(dui)這(zhe)條(tiao)有(you)4處斷(duan)絲(si)缺(que)陷(xian)的鋼絲繩(sheng)進行(xing)檢(jian)測。

第四部:將3位(wei)工程師(shi)分(fen)別(bie)檢(jian)測的數(shu)據導(dao)入分析(xi)軟件後,得出曲(qu)線結果(guo)分析(xi)(完全壹致)。
同(tong)類進口(kou)設備及國(guo)產(chan)設備無(wu)法(fa)相(xiang)比(bi),不服(fu)來(lai)試(shi)試。

俄羅(luo)斯INTRON鋼絲繩(sheng)探(tan)傷儀(yi) 部(bu)分(fen)型號儀(yi)器設(she)備現貨(huo)供(gong)應(ying).


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