海(hai)康(kang)微(wei)影(ying)HIKMICRO紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)、PCB加(jia)速(su)度傳(chuan)感器(qi)、PCB Piezotronics傳(chuan)感器(qi)、數(shu)據(ju)采集儀(yi)、應力應變儀(yi)、紫(zi)外(wai)成像(xiang)儀(yi)、精密(mi)木(mu)工(gong)機械(xie)、木(mu)工(gong)實驗室(shi)設備(bei)、SawStop木(mu)工(gong)臺(tai)鋸、AVIO紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)、法(fa)國(guo)CA測試儀(yi)器(qi)、IMPAC紅(hong)外(wai)測溫儀(yi)、紅(hong)外(wai)檢(jian)測服(fu)務(wu)、鋼絲(si)繩(sheng)無(wu)損檢(jian)測、鋼絲(si)繩(sheng)探傷(shang)服(fu)務(wu)、MIKRON黑(hei)體校準源(yuan)
- PCB Piezotronics傳感器(qi)
- 數(shu)據(ju)采集儀(yi)器(qi)
- 應力應變測量
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紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
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海(hai)康(kang)微(wei)影(ying)HIKMICRO紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
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NEC AVIO紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
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MIKRON紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
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高(gao)像(xiang)素(su)紅(hong)外(wai)成像(xiang)儀(yi)
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IMPAC紅(hong)外(wai)測溫儀(yi)
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FLIR紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
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雙(shuang)色(se)紅(hong)外(wai)測溫儀(yi)
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單(dan)色(se)紅(hong)外(wai)測溫儀(yi)
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海(hai)康(kang)微(wei)影(ying)HIKMICRO紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
- 手(shou)持(chi)式(shi)XRF光(guang)譜(pu)儀(yi)
- 法(fa)國(guo)CA測量儀(yi)器(qi)
- 精密(mi)木(mu)工(gong)機械(xie)
- 高(gao)校創意(yi)木(mu)工(gong)坊(fang)
- 鋼絲(si)繩(sheng)檢(jian)測儀(yi)
- 全(quan)日盲紫(zi)外(wai)成像(xiang)儀(yi)
- 黑(hei)體校準源(yuan)
- 專(zhuan)業檢(jian)測服(fu)務(wu)
- X射線(xian)殘(can)余(yu)應力測定儀(yi)
- 分(fen)光(guang)光(guang)度計
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Opterro光(guang)纖(xian)測量系(xi)統
日立(li)X-MET8000 Smart手(shou)持(chi)式(shi)XRF光(guang)譜(pu)儀(yi) 手(shou)持(chi)式(shi)熒(ying)光(guang)光(guang)譜(pu)儀(yi)
日(ri)立(li)X-MET8000 Smart
手(shou)持(chi)式(shi)XRF光(guang)譜(pu)儀(yi)(HHXRF)提供(gong)進(jin)行(xing)快(kuai)速(su)的(de)合金等(deng)級(ji)鑒(jian)定及多種(zhong)材料(固體和(he)粉(fen)末(mo)金屬、聚合物、木(mu)材、溶(rong)液、土壤(rang)、礦石(shi)、礦物等(deng))的(de)準確(que)化(hua)學結(jie)構(gou)分(fen)析(xi)所(suo)需的(de)性能(neng)。日立(li)X-MET8000 Smart手(shou)持(chi)式(shi)光(guang)譜(pu)儀(yi)方(fang)便(bian)、耐用(yong)且(qie)使用(yong)簡(jian)單(dan),可(ke)為(wei)您提供(gong)可(ke)靠(kao)的(de)結(jie)果。日立(li)X-MET8000 Smart手(shou)持(chi)式(shi)XRF光(guang)譜(pu)儀(yi)提供(gong)極(ji)好(hao)的(de)輕(qing)元素(su) (鎂、鋁(lv)、矽(gui)、磷(lin)、硫、氯(lv))分析(xi),檢(jian)測限度(du)低(di),且(qie)可(ke)每天提供(gong)準確(que)可(ke)靠(kao)結(jie)果(guo)。通(tong)過(guo)靈活的(de)基(ji)本參數(shu)法(fa)(FP)法進(jin)行(xing)分(fen)析(xi),從(cong)而測試多種(zhong)材料;或(huo)若(ruo)需結果可(ke)追溯和(he)高(gao)度(du)準確(que),則(ze)使(shi)用(yong)實(shi)證(zheng)校準。
優(you)異性能(neng)
通過(guo)靈活的(de)基(ji)本參數(shu)法(fa)(FP)法進(jin)行(xing)分(fen)析(xi),從(cong)而測試多種(zhong)材料;或(huo)若(ruo)需結果可(ke)追溯和(he)高(gao)度(du)準確(que),則(ze)使(shi)用(yong)實(shi)證(zheng)校準。
操(cao)作簡(jian)單(dan)
大觸(chu)摸屏(ping)和(he)基於(yu)圖(tu)標的(de)用(yong)戶界面(mian),使(shi)用(yong)戶只需要(yao)極少(shao)的(de)培(pei)訓便(bian)可(ke)開始操作。
符(fu)合人體工(gong)學
X-MET8000輕(qing)便(bian)(僅(jin)1.5公斤(jin))、簡(jian)潔、平衡性好(hao),可(ke)供(gong)長時間使用(yong),而(er)疲(pi)勞度(du)*低(di)。
堅(jian)固耐(nai)用(yong)而(er)擁有成本(ben)低(di)
符合IP54要(yao)求(qiu)(等(deng)同於(yu)NEMA 3)、防(fang)水(shui)、防塵(chen)的(de)X-MET可(ke)供(gong)室(shi)內外(wai)使(shi)用(yong)。
通(tong)過(guo)MIL-STD-810G**耐用(yong)標準測試。
其(qi)可(ke)選(xuan)的(de)防(fang)紮窗口膜可(ke)預防在粗糙表(biao)面上(shang)測量導致(zhi)探測器(qi)損壞(huai)而(er)出(chu)現(xian)的(de)高(gao)昂(ang)維(wei)修費(fei)用(yong)。
上(shang)等(deng)數(shu)據(ju)管理(li)
完全(quan)靈活:可(ke)將多達(da)100,000條(tiao)結果(guo)保存(cun)在X-MET上(shang),將報(bao)告輸出(chu)到U盤(pan)或(huo)個人計算(suan)機,或(huo)自動將X-MET數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)在LiveData雲端(duan)。
X-MET8000 Smart
X射線(xian)管:40kV
濾光片(pian):單(dan)壹(yi)
檢(jian)測器(qi):大面積 SDD
上(shang)限樣本(ben)溫度(du):400oC
符(fu)合 IP54 等(deng)級(ji)
Thick Kapton?窗口:保護以預(yu)防(fang)探測器(qi)的(de)窗戶損壞(huai)
校準:基(ji)本參(can)數(shu)法(fa)(FP)
內置攝(she)像(xiang)頭 (可(ke)選(xuan))
X射(she)線(xian)管:40kV
濾光片(pian):單(dan)壹(yi)
檢(jian)測器(qi):大面積 SDD
上(shang)限樣本(ben)溫度(du):400ºC
符(fu)合 IP54 等(deng)級(ji)
Thick Kapton®窗口:保護以預(yu)防(fang)探測器(qi)的(de)窗戶損壞(huai)
校準:基(ji)本參(can)數(shu)法(fa)(FP)
內置攝(she)像(xiang)頭 (可(ke)選(xuan))
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