產(chan)品名稱：X射線(xian)殘余(yu)應(ying)力(li)測(ce)定(ding)儀

X射線(xian)殘余(yu)應(ying)力(li)測(ce)定(ding)儀 XL-640

X射線(xian)殘余(yu)應(ying)力(li)測(ce)定(ding)儀，主(zhu)要用(yong)於測(ce)定金屬(shu)構件(jian)的(de)殘余(yu)應(ying)力(li)，而殘余(yu)應(ying)力(li)是關(guan)乎(hu)機(ji)械構件(jian)和(he)工程的質(zhi)量、壽命(ming)的重要因(yin)素，因(yin)而該(gai)儀器在機(ji)械制(zhi)造(zao)、水利水電、熱(re)電核(he)電、航空航天(tian)、核(he)工業(ye)、石油化工、冶(ye)金(jin)、鐵路、交(jiao)通(tong)等等行(xing)業(ye)，以(yi)及(ji)高(gao)等院校、科(ke)研單(dan)位，日益(yi)受到(dao)高(gao)度(du)重視(shi)。其次(ci)本(ben)儀器還(hai)可測定(ding)鋼(gang)中(zhong)殘(can)余(yu)奧氏(shi)體含量，而殘奧(ao)含(han)量會影(ying)響材(cai)料(liao)的(de)疲(pi)勞強(qiang)度和(he)變形趨勢,所(suo)以(yi)在機(ji)械制(zhi)造(zao)中亦(yi)普(pu)遍(bian)受到(dao)關(guan)註(zhu)。近年來特(te)別(bie)是軸承、齒(chi)輪(lun)、彈(dan)簧、軋輥(gun)等等制造行(xing)業(ye)，已把殘余(yu)應(ying)力(li)、殘(can)奧(ao)含量(liang)測(ce)定(ding)當成質(zhi)量控制的(de)必需(xu)手(shou)段(duan)。另外還(hai)具備測定織構和(he)晶體定向(xiang)的功(gong)能(neng)；因(yin)為(wei)能(neng)夠(gou)針對實(shi)際(ji)工件(jian)進(jin)行(xing)測(ce)試和(he)分(fen)析，所(suo)以(yi)這項功(gong)能(neng)備受青(qing)睞(lai)。
本(ben)次(ci)參(can)與競(jing)標的(de)金屬構件(jian)殘(can)余(yu)應(ying)力(li)無(wu)損檢測(ce)成(cheng)套(tao)系(xi)統設(she)備及(ji)軟(ruan)件(jian)為(wei)愛斯特(te)應(ying)力(li)技(ji)術(shu)有(you)限(xian)公(gong)司(si)研發生(sheng)產(chan)的(de)設備，其型(xing)號(hao)為(wei)XL-640型(xing)，該(gai)產品經過20多(duo)年的市場(chang)考(kao)驗，XL-640型(xing)在(zai)中(zhong)國各大(da)高校(xiao)，研究所(suo)，高(gao)鐵行(xing)業(ye)，航空航天(tian)等應(ying)用(yong)非(fei)常廣泛。

設備功(gong)能(neng)：適用(yong)於測(ce)試金屬材(cai)料(liao)的(de)殘(can)余(yu)應(ying)力(li)；殘(can)余(yu)奧氏(shi)體含量測試。

整套設備詳(xiang)細技(ji)術指標(biao)：

1、正(zheng)確(que)的側傾(qing)法（或稱為(wei)χ法），免除吸(xi)收(shou)因(yin)子(zi)影(ying)響。

2、被測材(cai)料(liao)：標(biao)配(pei)Cr靶(ba)X射線(xian)管(guan)，CrKα輻(fu)射適合(he)於鐵(tie)素體型鋼(gang)、鋁(lv)合(he)金、鎂(mei)合(he)金、硬(ying)質(zhi)合(he)金等等材(cai)料(liao)；CrKβ輻(fu)射適用(yong)於奧(ao)氏(shi)體不銹(xiu)鋼(gang)、高(gao)溫(wen)合(he)金、銅等等材(cai)料(liao)。Cu靶(ba)、Mn靶(ba)X射線(xian)管(guan)可更(geng)換(huan)。

3、高壓電(dian)源：功(gong)率30kV×10mA。

4、探(tan)測器：矽(gui)微帶(dai)線(xian)陣(zhen)探(tan)測器，640通(tong)道(dao)。

5、2θ範圍：118°～169°。

6、ψ角範圍：±45°。

7、準直管(guan)：內(nei)徑(jing)為(wei)（Ø0.5/Ø1/Ø1.5/Ø2/Ø3/Ø4ｍｍ）

8、測試點定位：采用(yong)激(ji)光(guang)定(ding)位器。

9、X射線(xian)管(guan)冷(leng)卻系(xi)統：封(feng)閉恒(heng)溫(wen)循環水箱。

10、電源：2000W，220V，50Hz。

11、整機(ji)測(ce)量精(jing)度：

對於無(wu)應(ying)力(li)鐵(tie)粉(fen)，使用(yong)CrKα輻(fu)射和(he)（211）晶面，儀(yi)器連續測(ce)試不少於5遍(bian)，所(suo)得(de)應(ying)力(li)平均值應(ying)在±14MPa以(yi)內(nei)，其標(biao)準差宜不大(da)於14MPa （符(fu)合(he)美國(guo)標(biao)準ASTM E915-2010、歐盟(meng)標(biao)準(zhun)EN 15305 2008和(he)國標(biao)GB7704-2017）。

12 臺(tai)式支架：實(shi)現三(san)維平移，垂(chui)直（Z 方向(xiang)）行(xing)程≥110mm，X方向(xiang)行(xing)程≥110mm，Y方向(xiang)行(xing)程≥110mm。

13 軟(ruan)件(jian)功(gong)能(neng)：

13.1 在所(suo)選X射線(xian)管(guan)靶(ba)材(cai)合(he)適的前(qian)提(ti)下(xia)，在Windows環境，用(yong)戶(hu)只需(xu)選定和(he)確(que)認被(bei)測(ce)材(cai)料(liao)類(lei)型(xing)，

其余(yu)所(suo)有(you)測試參(can)數(shu)將自動(dong)確(que)定。

13.2 自動(dong)升起(qi)X 射線(xian)管(guan)高(gao)壓，自動(dong)完(wan)成測(ce)量(liang)全過(guo)程，隨時(shi)進(jin)行(xing)數(shu)據(ju)處理(li)。

13.3 測試完(wan)畢自動(dong)關(guan)閉X 射線(xian)管(guan)高(gao)壓，輸(shu)出(chu)測試結果，生(sheng)成實(shi)驗(yan)報告(gao)。

XL-640型X射線(xian)應(ying)力(li)儀(yi)測(ce)角儀(yi)結(jie)構：
測角(jiao)儀(yi)側傾(qing)法結(jie)構。其主(zhu)要特(te)點(dian)：（1）2θ平面與ψ平面相(xiang)垂(chui)直；（2）使(shi)入(ru)射線(xian)與線(xian)陣(zhen)探(tan)測器的垂(chui)直平分(fen)線(xian)關(guan)於ψ平面對稱分(fen)布(bu)；（3）對於不(bu)同的材(cai)料(liao)、靶(ba)材(cai)和(he)衍(yan)射角(jiao)，需(xu)要改變2θ範(fan)圍時(shi)，采(cai)用(yong)步進(jin)電(dian)機(ji)、鋼(gang)帶(dai)傳動(dong)，同步地(di)、對稱地(di)改(gai)變X射線(xian)管(guan)和(he)探(tan)測器的位置(zhi)，維持(chi)正(zheng)確(que)的側傾(qing)法衍(yan)射幾(ji)何(he)布(bu)置(zhi)。

探(tan)測器：
瑞(rui)士DECTRIS公司(si)的(de)微帶(dai)X射線(xian)探(tan)測器（Microstrip X-ray Detectors）。該(gai)探(tan)測器的接(jie)收(shou)部(bu)分(fen)由640矽(gui)微帶(dai)組成(cheng)，每條(tiao)矽(gui)微帶(dai)的寬度(du)為(wei)50μm，能(neng)夠(gou)靈(ling)敏地(di)接(jie)收(shou)達(da)到壹(yi)定能(neng)量閾(yu)值的單(dan)個(ge)X光(guang)子(zi)，實(shi)現(xian)無噪聲(sheng)單(dan)光(guang)子(zi)計(ji)數(shu)，抗輻射、免維護(hu)和(he)無限(xian)壽(shou)命(ming)的特(te)點(dian)。

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