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海(hai)康微影HIKMICRO紅(hong)外(wai)熱像儀(yi)、PCB加(jia)速度(du)傳感(gan)器、PCB Piezotronics傳(chuan)感(gan)器、數據(ju)采集儀(yi)、應(ying)力應(ying)變(bian)儀(yi)、紫外(wai)成(cheng)像儀(yi)、精密木工(gong)機(ji)械、木工(gong)實驗(yan)室(shi)設(she)備、SawStop木(mu)工(gong)臺鋸(ju)、AVIO紅(hong)外(wai)熱像儀(yi)、法(fa)國(guo)CA測試儀(yi)器(qi)、IMPAC紅外(wai)測溫儀(yi)、紅(hong)外(wai)檢(jian)測服務、鋼(gang)絲(si)繩無(wu)損檢(jian)測、鋼(gang)絲(si)繩探(tan)傷(shang)服務、MIKRON黑(hei)體校準源
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Opterro光(guang)纖(xian)測量系統(tong)
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紫外(wai)成(cheng)像檢(jian)測 紫外(wai)成(cheng)像檢(jian)測
紫外(wai)成(cheng)像檢(jian)測的功能在於(yu)可(ke)以檢(jian)測可(ke)見光(guang)範圍(wei)外(wai)人眼不可(ke)見的電暈放(fang)電和表(biao)面局部(bu)放(fang)電。局部(bu)放(fang)(電暈放(fang)電)的空間(jian)分(fen)布(bu)及發光(guang)強(qiang)度(du)反(fan)映了帶電設(she)備的電場分布(bu),而防(fang)暈圖(tu)像直接反(fan)映出空(kong)間(jian)電場的分布(bu),能發現(xian)引(yin)起(qi)電場異常的設(she)備缺(que)陷(xian).可(ke)遠距(ju)離、高(gao)效率(lv)、可(ke)靠地(di)紫外(wai)電暈檢(jian)測。 -
紫外(wai)電暈檢(jian)測服務 紫外(wai)電暈檢(jian)測服務
紫外(wai)成(cheng)像儀(yi)的功能在於(yu)可(ke)以檢(jian)測可(ke)見光(guang)範圍(wei)外(wai)人眼不可(ke)見的電暈放(fang)電和表(biao)面局部(bu)放(fang)電。局部(bu)放(fang)(電暈放(fang)電)的空間(jian)分(fen)布(bu)及發光(guang)強(qiang)度(du)反(fan)映了帶電設(she)備的電場分布(bu),其作用(yong)與紅外(wai)熱成(cheng)像是(shi)互(hu)補(bu)的,紅外(wai)熱成(cheng)像反(fan)映的是(shi)溫(wen)度(du)場的分布(bu),能發現(xian)與過熱相關的設(she)備缺(que)陷(xian).而防(fang)暈圖(tu)像直接反(fan)映出空(kong)間(jian)電場的分布(bu),能發現(xian)引(yin)起(qi)電場異常的設(she)備缺(que)陷(xian).可(ke)遠距(ju)離、高(gao)效率(lv)、**、可(ke)靠地(di)確定(ding):
◆電暈放(fang)電和表(biao)面局部(bu)放(fang)電的來(lai)源。
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